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東莞市歐若斯儀器有限公司
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EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。
X射線熒光分析儀在日常使用中的注意事項：
1、X射線熒光分析儀從根本上來說是一種相對測量儀器，因此在使用過程中，需要定期對儀器進行標定和校準。
2、為保證有害元素含量的控制效果，X射線熒光分析儀的測量數據應與其他的測量手段結合起來使用；X射線熒光分析儀更適合生產過程的監控，甚至可以說：在生產過程中對有害元素含量的監控，X射線熒光分析方法是目前一可行的分析手段；而有害元素含量的最終裁定，則不應該僅僅依靠單一的測量手段。
3、被測量樣品的處理與測量精度的關系：
從X射線熒光分析理論上說，對被測量樣品進行必要的處理是必須的；一般來說，樣品處理的越好，則測量精度就會越高，測量結果越可靠。在實際使用過程中，我們應該盡量對被測量樣品進行必要的物理處理。
在測量不規則的樣品時，雖然從X射線熒光分析方法上可以對測量進行技術上的校正，從而滿足實際測量的需要；但這樣做所付出的代價是犧牲測量精度和測量數據的可靠性。
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