Twin-X（X射線熒光光譜儀）

Twin-X結合了兩種已獲得廣泛應同的牛津探測器技術：FOCUS 5+探測系統和PIN探測器技術。其輕便緊湊的一體化設計和*的多用途與高性能，使其榮獲IBO （Instrument Business Outlook）工業設計獎。

兩種探測器技術的組合可以達到對元素周期表種中不同位置的元素更全面的檢測。其中FOCUS 5+技術自從其引進到Lab-X3000中后，已經獲得了巨大的成功和廣泛的認可。

FOCUS 5+技術實現了對目標元素的*激發和目標元素的選擇性檢測，其優勢是檢測元素周期表中原子序數較低的元素，如Na，Mg，Al，P，S，Ci，K，Ca，……

PIN探測器技術的優勢則在于對復雜金屬基體的檢測。它可以實現對高原子序數元素的高靈敏度和高分辨率分析，這些元素如Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，……

Twin-X可以只配置FOCUS 5 +和PIN中的一種探測器，也可以同時配置這兩種高性能的探測器。我們可以根據您的實際需要為您選擇zui適用的配置。